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详细信息
场发射扫描电子显微镜/能谱仪检测 聚仪网供
检测名称: | 场发射扫描电子显微镜/能谱仪 |
检测价格: |
100.00 |
品 牌: | FEI Electron Optics B.V. |
型 号: | Quanta 400 FEG;CENESIS XM2 SEM EDS |
所 在 地: | 上海市 |
仪器详情:
详细信息与指标:
制造厂商: FEI Electron Optics B.V.
仪器编码: W1031
生产国别: 捷克
分类编码: 010102
购置日期: 2009-11-07
规格型号: Quanta 400 FEG;CENESIS XM2 SEM EDS
功能/应用范围:以很高的分辨率对物质微观形貌进行显微成像分析;测定物质结构;在物质微观形貌及结构进行分析的同时,对物质成分进行微区分析,微区尺寸可为纳米尺度。
主要附件:能谱仪
主要技术指标:分辨率二次电子(SE)成像:高真空模式:30kV时 1.2 nm;1kV时 3.0nm 低真空模式:30kV时 1.5 nm;3kV时 3.0nm ESEM?环境真空模式: 30kV时 1.5 nm背散射电子(BSE)成像:30kV时 2.5 nm放大倍数高真空模式: 12x - 1,000,000x低真空模式: 12x - 1,000,000x
技术特色:高分辨率,观察形貌分析结构。
服务实例:来样为船用花键轴,在使用时间约48小时发生断裂,浙江汉力士船用推进系统股份有限公司上 海分公司委托我中心对花键轴进行断裂原因分析。 断裂花键轴断裂位置为光轴区域,该区域无台阶及加工R角等应力集中,同类型花键轴的一直 使用从未发生过如此早期断裂,可以排除其设计问题;花键轴在断裂后一直运转,断面严重磨 损,给检测带来一定难度,本案研究的关键是通过分析判断确定花键轴早期断裂的原因。 通过宏观观察,化学分析,力学性能检验、扫描电镜断口分析,金相检验等分析手段,找到花 键轴材料本身是否存在缺点,加工使用
商家信息:
商家名称: 上海材料研究所
信 誉:★★★★★
关于聚仪:
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