9.9成准新机未使用 日立EA6000VX能量色散型X射线荧光分析仪 低价出售

日立EA6000VX能量色散型X射线荧光分析仪  聚仪网供

9.9成准新机未使用，2014年7月出厂，原装进口

快速扫描连续多点测量，膜厚测量功能，X射线透过，150万CPS高计数率检测器

仪器规格：

测量元素：原子序号Na(11)～U(92)* 充氦选购项

样品形状：液体、粉体、固体

X射线源：小型空冷室X射线管（Rh或W靶)      管电压50（可变) kV       管电流20～1000 µA  

X射线照射方向：上方垂直照射型

检测器：Vortex（SSD检测器） *（无需液氮）

分析区域：0.2, 0.5, 1.2, 3.0 mm□（自动切换）

样品观察：高分辨率CCD摄像头2系统

滤波器：6种模式电动切换

相当大样品尺寸：250（W）×200（D）×150（H） mm

仪器尺寸：750（W）×740（D）×783（H） mm *电器箱另置

重量：160kg

电源/额定功率：AC100～240 V(50/60Hz)/400 VA

自动进样器：连续多点测量功能

选购项

• 氦气系统
• 操作摇杆
• 信号灯
• 特殊式样专用台
• 样品放置治具
• 样品治具用薄膜
• 环境限制用标准物质
• 打印机
• 环境限制物质测量软件Ver.1

特长：

1.快速扫描

凭借相当大150万CPS的高计数率检测器完成高灵敏度的测量，以及借助相当大250 mm×200 mm范围扫描的快速电动样品台，实现快速扫描测量。对于范围为100 mm×100 mm的情况，可在2～3分钟内检测出端子部分的铅并确定其位置。

2. 连续多点测量

3. 高精密重合

通过Telecentric Lens 系统和高速・高精度XY平台，将元素扫描像和光学成像进行重合对微小部品的中心部分的目标元素也能进行简单观察。相当大250 mm×200 mm上方观察，并且能够实现广域位置相当小误差为100 µm以内的精确定位。

4. 微小部位测量

在FT系列中被公认的测量镀膜膜厚仪器就是由EA6000VX。不用说极薄的镀金等膜厚测量，即便是在进行镀膜钟所含的Pb等有害物质分析的膜压测量的同时也可进行膜厚测量。比如也可进行无铅焊锡镀层及引线框架上Sn镀层，无电解Ni镀膜中所含的有害物质的浓度测量。

5. 环境中限制物的测量

RoHS等限制物的高灵敏度测量，短时间内测出树脂、金属等中含有的微量环境限制物。对复合样品也可专注到特定部位进行测量。

6. 轻元素测量

7. 透过扫描机能

8. 异物检测EA6000VX

9. 相对安全、安心的操作性

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