LA-S多功能植物图像分析系统

植物叶面积分析

植物叶色比对分档

植物年轮分析

植物年轮分析

植物根系分析

植物根系分析

西瓜剖面各部位分析

橙子剖面各部位分析

硬件规格：

光学分辨率

4800×9600 dpi

最大分辨率

65535×65535 dpi

拍摄箱

封闭/半封闭式扫描、无直射强光干扰

最大分析测量面积

最大分析面积356 mm × 216 mm，如果配合根盘使用分析面积为300 mm × 200 mm

分辨的最小尺寸

0.008 ×0.008 mm

图像分析测量精度

X向≤±0.5 %，Y向≤±0.25%

长度测量重现性误差

<±0.25%

面积测量重现性误差

<±0.25%

台间测量差异

<±0.25%

测量总时间

30~60秒

软件功能：

叶片分析

可全自动地大批量分析计算叶面积，并以叶片目标边缘标记来核对其正确性。可同时分析多张叶片面积，及分析小至1mm²的叶片。叶面积 (可累计面积)、叶片面积（可累计面积)、叶子穿孔面积 (可累计面积)、叶片长度和宽度、叶柄长度、叶周长 (不受叶片孔洞影响)、叶片周长、叶片长宽比、叶片形状系数、自定义长度和角度测量，叶片锯齿高度、宽度、数量测量，叶孔面积测量；包膜（齿-齿之间的直线长度和），包膜形成的投影面积；不规则叶片形态分析，真彩的病斑、虫损面积分析（含2/3以上叶片被严重虫损的虫损叶面积分析），叶片颜色分档分析(包括按叶片颜色自动分档查询，用于氮肥状态的外观评价)。同时分析多片叶时，可得到叶片总面积、周长等参数，也可得到其中每一片叶片的周长、面积等参数。

植物根系分析

植物根系可分析测量：1)根总长；2)根平均直径；3)根总面积；4)根总体积；5)根尖计数；6)分叉计数；7)交叠计数；8)根直径等级分布参数；9)根尖段长分布，10）可不等间距地自定义分段直径，自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积 等，及其分布参数；11）能进行根系的颜色分析，确定出根系存活数量，输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积。12）能进行根系的拓扑分析，自动确定根的连接数、关系角等，还能单独地自动分析主根或任意一支侧根的长度和分叉数等，可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数（分档数、档直径范围任意可改，可不等间距地自定义），并能进行根的分叉裁剪、合并、连接等修正，修正操作能多步回退，以快速获得100%正确的结果。精度：根长≤±1%；面积：优质图像质量时<1%，标准图像质量时≤3%。匹配专门的双光源照明系统，提供高分辨率的彩色或黑白图像，去除了阴影和不均匀现象的影响，有效保证图像质量。采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度等，可读取TIFF、BMP、JPEG、PNG、PCX标准格式的图像。可兼做针叶面积、体积测量，以及棉纤维粗细、长度测量。

瓜果剖面分析

瓜果剖面各部位分析：1).可测西瓜的：纵径、横径、果形指数、总面积、皮厚、空心面积、瓤色分档分析、外周长；2).可测哈密瓜等甜瓜的：纵径、横径、果形指数、截面积、肉厚、外周长、瓤色分档分析、种腔（纵径、横径、面积）；3).可测苹果、梨等的：纵径、横径、果形指数、总面积、核心面积、肉色分档分析、外周长；4).可测柑橘类水果的：纵径、横径、果形指数、总面积、皮厚、肉色分档分析、外周长。还可分析木材的边材面积。

植物年轮分析

可自动判读年轮数、各年轮平均宽度、早材及晚材宽度、各年轮切向角度和面积。可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界，以及识别出很窄的树轮，可交互删除伪年轮、插入断年轮，可自动生成分析年表。可以直接分析最大达到2万万像素（2亿像素）的超高精度扫描的超大幅面年轮图像（能分析在3200dpi分辨率下，成像分析430mm×30mm区域的年轮灰度图像（A3扫描仪），精度远高于目前常用的1600dpi分辨率）。具有【精细】分析选项，可自动分析出≤0.2mm宽度的年轮，分析获得的测量数据具备进一步做交叉定年、数据分析处理能力。可计算树盘总面积。

人工辅助修正

图像可放大缩小和局部观察，可实现鼠标区域选择统计、对污染区的辅助裁剪或橡皮擦修正

统计效果监视

监视和修正植物对象分析的精度

自动杂质剔除

根据尺寸等方面的区别，进行自动杂质剔除

辅助测量功能

尺寸标定：自带标定功能，实现半自动的尺寸标定，XY向可分别标定修正长度测量：具有跟随放大镜功能，通过鼠标拖动精确测量；

数据报表导出

分析结果能导出到Excel表，以便存档和统计。还可输出分析标记图，以便发表论文用