钽电容缺陷检测-FOTRIC 248M红外热像仪解决方案
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- 更新时间:
- 2024-06-26
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- FOTRIC 248M
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- FOTRIC
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详细信息
钽电容概述
钽电容器是四大电容产品(MLCC/铝电解/钽电容/薄膜电容)之一,阳极是多孔的钽粉烧结体,工作介质是钽粉烧结体表面生成的一层极薄的五氧化二钽薄膜(20nm~400nm),一般用在直流电路中作滤波、整流。自1956年年贝尔实验室研发以来,钽电容已有近70年的发展历史,在不断的技术ge新过程中,钽电容器在社会发展和人们日常生活中扮演重要的角色,它形状多样化,能按使用需要设计成各种外形的元器件,满足复杂电路和微小电路的需求。
钽电容可kao性好、使用寿ming长;相对其他类型的电容器,在电xing能方M具有容量高、漏电流小、损耗小、等效串联电阻低等优点,被广泛应用于电气电子、通讯、交通、航空航天等领域。
在民用领域中,由于其价格高昂,多用于高duan领域,具体用在电脑主板、智能手机及音频放大器。
钽电容特点
(1)体积小。钽电容器阳极表面生成的氧化钽薄膜为其介电体。该氧化膜非常薄且与钽金属结合成整体,而钽阳极内部多孔而疏松,保留了钽粉的绝大部分表面积。因此钽电容器比容量hen高,在同等电容量的要求下可以做到更小的体积。
(2)容量高。钽电容器能很容易获得较大的电容量。即便在较低的工作电压下也能保持高电容优势。尤其是在电源滤波、交流旁路、直流电源系统的退耦以及耦合等用途上优势更为tu出。
(3)可kao性高且使用寿ming长。钽电容器工作时,在电场作用下,钽金属表面缓慢氧化,相当于又一次赋能过程,尤其是氧化膜中的赃点和缺陷处能做到自动修复和绝缘,使其不致遭到连续的累积性破坏而失效。钽电容器这种独te的自我修复能力,保zheng了其高可kao性和长使用寿ming,同时也加大了其电场适应范围。
(4)损耗小。钽电容器的介电体为无定型氧化担薄膜,其化学性能非常稳定,耐普通酸、碱,电阻率高,介电常数大(27.6),能在工作中自动修复缺陷。适用于较恶lie的环境。
钽电容热失效的表现
钽电容热失效的表现主要有以下几点:
电容值变化:在高温环境下,电容器的电容值会减小,这会影响电路的稳定性和工作性能。
漏电流增加:钽电容热失效会导zhi电容器的漏电流增加,从而增加电路的功耗和热量,进一步加剧电容器的热失效。
温升异常:由于器件损耗变大(如纹波电流过大),导致温升异常升高,破坏器件热平衡,从而导致热击穿失效。
电压型失效:钽电容介质层厚度决定了其耐压,由于介质膜不均匀,在薄的地方耐压低,或者外界电压过高,瞬间击穿介质膜,导致器件失效。
焊接问题:焊接温度过高或焊接持续时间过长,可能导致钽电容内钽丝与阳极引线熔焊的焊锡受热流,形成多余物,造成短路失效。
容值影响:容值较大的片状钽电容比容值较小的片状钽电容更容易失效,因为容值增大时,体积将增大,耐压值和串联阻抗却会降低。
温度影响:“热致效应”是温度导致片状钽电容失效的重要因素,通常采取增加降额和运用“缓启动”电路来提高可kao性,同时避免较高的环境温度,远离热源。
浪涌影响:浪涌电流的大小决定于电压上升的速率,钽电容承受浪涌的能力依赖于它的额定电压。串联电阻可以降低浪涌电流的峰值,但同时增加了阻尼电阻,降低了电路的Q值。
综上,钽电容热失效的表现多种多样,但通常都与温度、电压、电流以及电容本身的物理结构有关。为了避免或减轻这些失效现象,需要采取适当的预防措施和设计优化。
钽电容热失效检测方式
热成像仪检测:
使用Fotric热成像仪对钽电容进行热成像检测。热失效的钽电容在热像图上会显示出异常的高温区域。
根据红外热像仪提供的温度数据,确定钽电容是否存在过热现象。
电气性能测试:
进行电容值测试,观察电容值是否发生变化,以及与标称值是否相符。
进行漏电流测试,检查漏电流是否超过规定值。
环境适应性测试:
在高温环境下对钽电容进xing长时间工作测试,观察其性能变化。
如有条件,可以模拟实际工作环境中的振动、冲击等条件进行测试。
FOTRIC 248M-M20科研热成像仪主要参数:
红外分辨率:640×480
热灵敏度:<0.03℃
帧频:25Hz
测温范围:-20~650℃;
调焦方式:手动调焦
测试范围:12.8mm×9.6mm
支持录制全辐射视频流
钽电容未来发展方向
有机高分子钽电容器是一种电子元件,其特点在于采用有机高分子材料作为电介质,同时具有钽金属作为电极材料。这种电容器结构在传统的电解电容器的基础上进行了创xin,通过引入有机高分子材料,提高了电容器的性能和稳定性。有机高分子材料在此起到电介质的角色,与传统的固态和液体电解质相比,不仅具有geng好的绝缘性能,还能在高温和高频应用中表现chu色。此外,有机高分子钽电容器还继承了钽电容器的优势,如高电容密度和长寿ming。因此,这种电容器广泛应用于各种电子设备和电路中,为提高x能、减小体积以及满足现代电子产品对高pin质电子元件的需求提供了一种有效的解决方案。
总结
钽电容热失效的检测,当钽电容在高温环境下内部温度过高,导致内部结构发生变化时,失效点局部的内 热会引起局部温度的轻微提升。这时,Fotric 248M科研热成像仪就能jing确地bu捉到这一温度变化,把钽电容表面不可见的热分布转换为可见的红外图像,揭示出失效部位的异常状况。
同时,热成像仪还能进行jing确的局部温度显示,被测物体表面的热场分布成像清晰,为钽电容热失效的判断提供准确的数据。
热成像仪检测就像是为钽电容做了一次“全身扫描”,帮助我们快速、准确地找到热失效的“病zao”。